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| 등록인 :
paullee08
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조회수: 2807 |
2018-04-23 13:47:24 |
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| 제 목 : 단차 측정시 Z detector와 Topology의 값이 다른 이유는 무엇인지요? |
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안녕하세요.
제가 2차원 반도체 물질의 단차를 정확히 알고 싶은 목적으로 AFM 측정하는 작업을 하고 있습니다.
contact모드로 optimized가 되었을 때 이 물질이 topolgy를 보면 930 nm 으로 측정이 되고 Z detector로 보면 1213 nm 로 측정이 됩니다. (커뮤니티에 마이크로단위의 두꺼운샘플은 Z detector가 더 정확할수있다는 글을 보고 Z detector로 측정시도하였습니다.)
질문은 930 nm, 1213 nm 의 두께 차이가 왜 나는지, 어떤 것을 믿어야하는지 궁금합니다.
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