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| 등록인 :
yjk556
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조회수: 408 |
2019-04-01 14:11:48 |
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| 제 목 : XE - 100 모델 측정 문의 |
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안녕하세요.
AFM 으로 투명한 박막 roughness를 측정중에 잘 안되는 사항이 있어 문의드립니다.
첨부파일에 보시는 이미지와 같이 tophography는 잘 맞아서 이미지가 나오는데 Error signal 과 emplitude가
noise가 너무 많이 일어나서 측정이 완료되도 tophography 이미지가 선명하게 나오지 않습니다.
해결할 수 있는 방법이 있을까요?
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